QS30介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

高精密高壓電容電橋QS30Ⅰ型簡(jiǎn)介

1.QS30介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀  簡(jiǎn)介

QS30Ⅰ型高壓電橋?yàn)閷?shí)驗(yàn)室用高精密高壓電橋,可與各類(lèi)高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器配合組成高壓電容電橋，適宜于在高電壓下測(cè)量電力電纜、高壓套管、電力電容器、互感器等高壓電力設(shè)備的電容量及損耗角正切值tgδ，以及各種固體或液體絕緣材料的介電常數(shù)（ε）及損失角正切值，也可測(cè)量高壓變壓器或電壓互感器的比差和角差。電橋可外接電流互感器以擴(kuò)大量程，測(cè)量大電容時(shí)本電橋?yàn)樗亩藴y(cè)量具有引線補(bǔ)償裝置，消除接線電阻引起的附加誤差。本電橋還可測(cè)量電抗器的電感量及Q值。QS30Ⅰ-3型量程擴(kuò)展器（供選購(gòu)）能使主橋體的電容比從1000：1擴(kuò)大到10⁶：1，當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)電容為1000pF時(shí)，儀器大可測(cè)得1000uF。儀器內(nèi)部的計(jì)算機(jī)能自動(dòng)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，直接在面板上顯示電容值及介損值tgδ和測(cè)試電壓及流經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)電容的電流（Is），并可通過(guò)打印機(jī)將測(cè)試結(jié)果打印出來(lái).

2. QS30介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀 主要技術(shù)指標(biāo)

• 電橋電容比Cx/Cs（當(dāng)額定比率為1：1時(shí)）為0到1.111110，步級(jí)0.000001，倍率（K）變化范圍為1000、500、200、100、50、20、10、5、2、1共十檔，電容的測(cè)量范圍取決于標(biāo)準(zhǔn)電容器Cs的大小電容值，即Cx=Cs·K·（Cx/Cs）
• 電容比率值的測(cè)量準(zhǔn)確度：電容比率讀數(shù)第一只盤(pán)為滿(mǎn)度時(shí)

 為±0.00005

• 電橋tgδ范圍為-0.111110到+0.111110，步級(jí)為0.000001。
• tgδx測(cè)量準(zhǔn)確度不大于±0.2% tgδx±1×10^-5
• 被測(cè)電容量顯示：Cx=（0.1~1111.1110）Cn
• 被測(cè)電容介損顯示：tgδ= -1.11×10^-1到1.11×10^-1  
• 外形尺寸：560（寬）*410（深）*390（高）毫米。
• 重量：約40公斤。
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