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  • 智能介電常數(shù)測(cè)定儀
    智能介電常數(shù)測(cè)定儀

    智能介電常數(shù)測(cè)定儀雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧

    更新日期:2024-10-16型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:2056
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  • 介電常數(shù)測(cè)定儀
    介電常數(shù)測(cè)定儀

    介電常數(shù)測(cè)定儀雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧

    更新日期:2024-10-16型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:2415
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  • 介電常數(shù)儀
    介電常數(shù)儀

    介電常數(shù)儀雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。 自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

    更新日期:2024-10-15型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:2351
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  • 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x
    介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x

    介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x符合標(biāo)準(zhǔn): ASTM D150-11實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數(shù))的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法; GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法; GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法; GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法;

    更新日期:2024-10-15型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:2072
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  • 電氣絕緣介電常數(shù)儀
    電氣絕緣介電常數(shù)儀

    電氣絕緣介電常數(shù)儀介質(zhì)在外加電場(chǎng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生感應(yīng)電荷而削弱電場(chǎng),原外加電場(chǎng)(真空中)與終介質(zhì)中電場(chǎng)比值即為介電常數(shù)。電介質(zhì)經(jīng)常是絕緣體。其例子包括瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料,和各種金屬氧化物。有些液體和氣體可以作為好的電介質(zhì)材料。干空氣是良好的電介質(zhì)

    更新日期:2024-10-15型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:2092
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  • 介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀
    介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀

    高頻 介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀 系統(tǒng)由S916測(cè)試裝置(夾具)、LJD-A/B/C型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件(裝入LJD-A/B或LJD-C的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作

    更新日期:2024-10-15型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:2316
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  • LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
    LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀

    LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)高的160MHz。 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能

    更新日期:2024-10-15型號(hào):LJD-C訪(fǎng)問(wèn)量:1902
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  • LJD系列介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)定儀
    LJD系列介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)定儀

    LJD系列介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)定儀自動(dòng)介電常數(shù)測(cè)試時(shí),基本步驟同手動(dòng)一樣,只是主機(jī)支持通過(guò)數(shù)據(jù)模塊記錄S916測(cè)試夾具的數(shù)據(jù),并自動(dòng)計(jì)算出介電常數(shù)。 2.使用數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換連接線(xiàn),連接S916數(shù)據(jù)傳輸接口和介電常數(shù)測(cè)試主機(jī)背板上的四芯插座

    更新日期:2024-10-15型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:2244
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